材料表面发射率/辐射率的研究以及测量已经经过了很长的一段时间发展，近五十年来材料发射率的测量方法有了很大的进展，目前已经建立了分别适用于不同温度和状态以及不同物质的各种测试方法。大致分为两个大的方向，半球发射率测量以及方向发射率测量。而半球发射率通常用的就是量热法。
量热法的基本原理是：一个热交换系统包含被测样品和周围相关物体，根据热传理推导出系统有关材料发射率的传热方程，通过测量样品某些点的温度值得到系统的热交换状态，即能求得发射率。
美国D&S公司生产的 AE1/RD1便是用量热法的原理测出发射率，该设备测量的波长范围为3——30μm，测量样品可小至 Φ2.54cm，测量精度可达±0.01发射单位。是重复性和稳定性较好的便携式设备。
D&S公司位于德克萨斯州达拉斯市，自1977年以来一直为太阳能和航空航天工业制造热学和光学仪器。旗下产品 AE1/RD1 辐射率测试仪，是一种专用于测试辐射率的仪器。可以在一般环境温度下测量物体的热辐射率。其小巧便携，可以用于物体的原位辐射率检测。
AE1/RD1 辐射率测试仪遵循ASTM C 1371-04a 测试标准（使用便携式发射计测定室温附近材料的发射率的标准测试方法）。
这种测试方法涵盖了一种使用便携式差热电堆辐射率测试仪测定典型材料半球发射率的技术，测量仪仅对辐射传热响应，并且输出电压跟辐射率成线性关系。此测试方法的目的在于提供一种量化接近室温的、不透明的、高导热材料的发射率的相对方法，作为评估温度、热流，推导材料热阻的一个参数数据。
